میکروسکوپ متالورژی عبوری انعکاسی اینورت مدل GX53

برای قیمت تماس بگیرید

ساخت کمپانی OLYMPUS  ژاپن

Brightfield, Darkfield, DIC observation, Polarized, MIX observation: Brightfield + Darkfield

زمینه روشن، زمینه تیره، سیستم  DIC،پولاریزان، ترکیبی از زمینه روشن و زمینه تیره

میکروسکوپ معکوس GX53 که برای استفاده در صنایع فولاد، خودرو، الکترونیک و سایر صنایع تولیدی طراحی شده است.

دارای سیستم کامل سخت افزاری و نرم افزاری آنالیز تصویر OLYMPUS Stream software

سیستم HDR  برای عکس های با کنتراست پایین

پشتیبانی از استانداردهای :

ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI

Solutions Supported standards
Grain intercept ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
Grain planimetric ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
Cast iron ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004,

GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006

Inclusion worst field ISO 4967 (method A): 2013, JIS G 0555 (method A): 2003, ASTM E45 (method A): 2013, EN 10247 (methods P and M): 2007,

DIN 50602 (method M): 1985, GB/T 10561 (method A): 2005, UNI 3244 (method M): 1980

Chart comparison ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971,

SEP 1520: 1998

Coating thickness EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001

کاتالوگ

Microscope_GX53_en_Web__Abzarteb__

نقد و بررسی‌ها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “میکروسکوپ متالورژی عبوری انعکاسی اینورت مدل GX53”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد.

TOP