میکروسکوپ متالورژی عبوری انعکاسی اینورت مدل GX53

برای قیمت تماس بگیرید

ساخت کمپانی OLYMPUS  ژاپن

Brightfield, Darkfield, DIC observation, Polarized, MIX observation: Brightfield + Darkfield

زمینه روشن، زمینه تیره، سیستم  DIC،پولاریزان، ترکیبی از زمینه روشن و زمینه تیره

میکروسکوپ معکوس GX53 که برای استفاده در صنایع فولاد، خودرو، الکترونیک و سایر صنایع تولیدی طراحی شده است.

دارای سیستم کامل سخت افزاری و نرم افزاری آنالیز تصویر OLYMPUS Stream software

سیستم HDR  برای عکس های با کنتراست پایین

پشتیبانی از استانداردهای :

ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI

Solutions Supported standards
Grain intercept ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
Grain planimetric ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
Cast iron ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004,

GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006

Inclusion worst field ISO 4967 (method A): 2013, JIS G 0555 (method A): 2003, ASTM E45 (method A): 2013, EN 10247 (methods P and M): 2007,

DIN 50602 (method M): 1985, GB/T 10561 (method A): 2005, UNI 3244 (method M): 1980

Chart comparison ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971,

SEP 1520: 1998

Coating thickness EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001
دسته:

کاتالوگ

_GX53_en_Web

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “میکروسکوپ متالورژی عبوری انعکاسی اینورت مدل GX53”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

TOP