میکروسکوپ متالورژی عبوری انعکاسی اینورت OLYMPUS مدل GX53
ساخت کمپانی OLYMPUS ژاپن
Brightfield, Darkfield, DIC observation, Polarized, MIX observation: Brightfield + Darkfield
زمینه روشن، زمینه تیره، سیستم DIC،پولاریزان، ترکیبی از زمینه روشن و زمینه تیره
میکروسکوپ معکوس GX53 که برای استفاده در صنایع فولاد، خودرو، الکترونیک و سایر صنایع تولیدی طراحی شده است.
دارای سیستم کامل سخت افزاری و نرم افزاری آنالیز تصویر OLYMPUS Stream software
سیستم HDR برای عکس های با کنتراست پایین
پشتیبانی از استانداردهای :
ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
| Solutions | Supported standards |
| Grain intercept | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
| Grain planimetric | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
| Cast iron | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004,
GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
| Inclusion worst field | ISO 4967 (method A): 2013, JIS G 0555 (method A): 2003, ASTM E45 (method A): 2013, EN 10247 (methods P and M): 2007,
DIN 50602 (method M): 1985, GB/T 10561 (method A): 2005, UNI 3244 (method M): 1980 |
| Chart comparison | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971,
SEP 1520: 1998 |
| Coating thickness | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001 |
نقد و بررسی‌ها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.